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高性能多通道全自动比表面积及孔隙度分析仪

作者:     点击:      时间:2019-04-02



设备名称:

TriStar II 3020高性能多通道全自动比表面积及孔隙度分析仪

 

设备简介:

TriStar II 3020是美国Micromeritics Instrument Corporation公司生产的一款高性能多通道全自动比表面积及孔隙度分析仪。可以进行材料比表面积、孔径分布、孔体积等的测试。分析范围为:材料比表面积 0.01 m2/g至已知无上限,孔径分析范围0.35-500 nm。可测试吸-脱附等温线,提供BETLangmuir比表面积,BJHDFT平均孔径分布和孔体积等数据。适用于各种固体材料的研究与产品测试,包括测量沸石、分子筛、碳材料、二氧化硅、氧化铝、土壤、岩石、固态高分子、有机金属化合物骨架结构等各种材料。广泛应用于催化、吸附、环境、建筑等领域。

 

技术参数:

1.        配备6站样品预处理系统,温度范围:室温-400摄氏度;

2.        可同时和独立分析三个样品,P0站和各气路配有独立的压力传感器(分辨率≤0.05 mmHg);

3.        分析范围:比表面积:0.01 m2/g至无已知上限;孔径分析范围:3.5 Å to 5000 Å

4.   等温线测试温度:77 K(液氮环境)。

5.        吸附质:氮气。

6.        仪器软件包含了目前所有的数据处理方法,提供以下数据处理模型:BET比表面积,Langmuir表面积;BJH 孔径分布,Dubinin-Radushkevich 微孔面积;总孔体积:由用户选取可选的 P/P0 ;平均孔径:半径,直径; 统计壁厚(t-曲线):de Boer Halsey或碳黑模型;T-plot法:微孔表面积,中孔表面积,微孔体积,相关系数;微孔孔径分布:MPHKSFDADFT/NLDFT

 

联系方式:

房间号:当代楼121     负责人:彭渝浩、宋述华

邮箱:yuhaopengmeso@gmail.com; songshuhua@whu.edu.cn